Centre de Nanosciences
et de Nanotechnologies

Opto-RF

 

 Le pôle Opto-RF

Le pôle Opto-RF regroupe un ensemble de compétences en caractérisation et en instrumentation optiques et optoélectroniques en soutien aux activités de recherche du C2N. De plus, le pôle est amené à participer à des projets collaboratifs extérieurs au C2N en accord avec ses domaines d’experties. Au sein du pôle Opto-RF, les compétences en mesures optoélectroniques rapides sont regroupées dans la plateforme Descartes.

 La plateforme DESCARTES pour les TIC du futur

Les nouveaux dispositifs susceptibles de contribuer à l’augmentation de capacité de transmission d’information dans les prochaines générations de technologies de l’information et de la communication font l’objet d’une caractérisation fonctionnelle orientée vers une analyse du traitement de signaux rapides.

  Objectifs

DESCARTES est un acronyme pour “Démonstrateurs Expérimentaux et Signaux de caractérisation pour Composants Avancés de la Recherche pour les TElecommunicationS par fibre optique”. La plateforme contribue principalement à démontrer la fonctionnalité de nouveaux dispositifs destinés aux systèmes de télécommunications. Elle rassemble un ensemble d’équipements à hautes fréquences permettant une mise en oeuvre de démonstrateurs à chaque fois spécifiques au contexte de chaque projet. La configuration de base de la plateforme présente une flexibilité à l’émission ou en réception, lui permettant d’être adaptée à différents formats de signaux ou rythmes d’horloge. Les évolutions sur la plateforme s’attachent à conserver ce caractère générique même si la contrepartie est une exigence d’attention particulière sur l’adéquation des signaux à manipuler aux interfaces. La plateforme accueille des dispositifs issus d’autres laboratoires, industriels ou académiques. Elle répond aussi à des problématiques de mesures émanant des autres départements du C2N.

  Membres

AUBIN Guy

Tel : (33) 1 69 63 61 51

MONNIER Paul

Tel : (33) 1 69 63 61 83

  Département Photonique

Le pôle d'expertise fait partie du département Photonique.

Caractérisation en cours d’un dispositif sous pointes piloté et analysé par les équipements de la plateforme

  Description des possibilités d’analyse de signaux à haut débit

Le débit binaire d’émission s’étend jusque 100Gbit/s dans le domaine électrique en format NRZ et jusque 170Gbit/s sur une seule longueur d’onde porteuse dans le domaine optique par modulation d’impulsions en intensité. Le format optique PSK qui est l’élément de base des modulations complexes peut être analysé. La plage spectrale des lasers d’émission disponibles pour les configurations en multiplexage de longueurs d’onde (WDM) couvre toute la bande C. L’analyse quantitative de la qualité de transmission ou de traitement du signal issu des dispositifs est réalisée par des mesures directes de taux d’erreurs. Une caméra à balayage, un auto-corrélateur, un analyseur de spectre à 50GHz, un oscilloscope à 60GHz accompagnent la mise en œuvre des démonstrateurs.