Une Rencontre Académiques/Industriels, aura lieu lundi 23 mai au C2N sur la Nano-caractérisation / Nano-métrologie – instrumentation à l’échelle nano.
Les caractérisations aux échelles nanométriques des propriétés structurales, électriques, thermiques, chimiques, magnétiques... ainsi que des nanomatériaux présentant des propriétés spécifiques non-exprimées aux échelles macroscopiques, sont un défi scientifique.
Ces caractérisations requièrent de faire appel à des techniques de nano-caractérisation ultimes aujourd'hui commercialisées (caractérisation sonde locale, Infra-rouge, Cathodoluminescence, Raman...), tout comme au développement d'instruments innovants.
Cette journée, organisée en partenariat avec le Club Nanométrologie, adressera ces aspects au travers de présentations scientifiques portées par des acteurs académiques et industriels, de posters et d'une table ronde.
Inscription gratuite mais obligatoire jusqu'au 16 mai :
https://bit.ly/38KlNZv
Organisateurs et contacts C2N :
Noëlle Gogneau: noelle.gogneau@c2n.upsaclay.fr
Juan-Ariel Levenson: juan-ariel.levenson@c2n.upsaclay.fr
